Mikroskop  secara sederhana diartikan sebagai sebuah alat yang memungkinkan  manusia untuk mengamati suatu benda atau makhluk hidup yang berukuran  terlampau kecil sehingga tidak bisa dilihat dan diamati hanya dengan  menggunakan mata telanjang. 
|  | 
| Zacharias Janssen | 
|  | 
| Hans Janssen | 
Ada 2 jenis mikroskop elektron yang biasa digunakan, yaitu transmission  electron microscopy (TEM) dan scanning electron microscopy (SEM). TEM  dikembangkan pertama kali oleh Ernst Ruska dan Max Knoll, 2 peneliti  dari Jerman pada tahun 1932. Saat itu, Ernst Ruska masih sebagai seorang  mahasiswa doktor dan Max Knoll adalah dosen pembimbingnya. Karena hasil  penemuan yang mengejutkan dunia tersebut, Ernst Ruska mendapat  penghargaan Nobel Fisika pada tahun 1986. Sebagaimana namanya, TEM  bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke lapisan tipis sampel,  yang selanjutnya informasi tentang komposisi struktur dalam sample  tersebut dapat terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun  fase sinar elektron yang menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat  pantulan sinar elektron tersebut juga bisa diketahui struktur kristal  maupun arah dari struktur kristal tersebut. Bahkan dari analisa lebih  detail, bisa diketahui deretan struktur atom dan ada tidaknya cacat  (defect) pada struktur tersebut. Hanya perlu diketahui, untuk observasi  TEM ini, sample perlu ditipiskan sampai ketebalan lebih tipis dari 100  nanometer. Dan ini bukanlah pekerjaan yang mudah, perlu keahlian dan  alat secara khusus. Obyek yang tidak bisa ditipiskan sampai order  tersebut sulit diproses oleh TEM ini. Dalam pembuatan divais  elektronika, TEM sering digunakan untuk mengamati penampang/irisan  divais, berikut sifat kristal yang ada pada divais tersebut. Dalam  kondisi lain, TEM juga digunakan untuk mengamati irisan permukaan dari  sebuah divais.
Tidak jauh dari lahirnya TEM, SEM dikembangkan pertama kali tahun 1938  oleh Manfred von Ardenne (ilmuwan Jerman). Konsep dasar dari SEM ini  sebenarnya disampaikan oleh Max Knoll (penemu TEM) pada tahun 1935. SEM  bekerja berdasarkan prinsip scan sinar elektron pada permukaan sampel,  yang selanjutnya informasi yang didapatkan diubah menjadi gambar.  Imajinasi mudahnya gambar yang didapat mirip sebagaimana gambar pada  televisi. 
Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada  mikroskop optic dan TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi  elektron baru (elektron sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari  permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut discan dengan sinar  elektron. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi  selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan  dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray tube).  Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa  dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang  ditipiskan, sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut  pandang 3 dimensi.

 

